Deskripsi
Pengujian dan analisis ini menggunakan X-Ray Diffraction (XRD) Empyrean yang dilengkapi dengan Small-Angle X-ray Scattering (SAXS), sistem in situ, serta perangkat lunak HighScore Plus dengan database terbaru. Metode ini digunakan untuk mengidentifikasi fase kristal, menentukan parameter kisi, menghitung ukuran kristalit, serta mempelajari perubahan struktur material secara real-time. Kombinasi perangkat keras dan perangkat lunak ini memberikan hasil analisis yang akurat, komprehensif, dan sesuai standar internasional.
Sampel disinari dengan berkas sinar-X, menghasilkan pola difraksi yang direkam oleh detektor. SAXS digunakan untuk menganalisis struktur pada skala nanometer, sedangkan sistem in situ memungkinkan pemantauan perubahan fase selama proses seperti pemanasan, pendinginan, atau reaksi kimia. Data difraksi kemudian diolah menggunakan HighScore Plus dengan database mineral dan senyawa terbaru untuk identifikasi fase, kuantifikasi, dan analisis struktur secara detail. Metode ini ideal untuk penelitian material, kontrol kualitas, dan pengembangan produk berbasis sifat kristalografi.