Deskripsi
Pengujian ini menggunakan X-Ray Diffraction (XRD) Empyrean yang dilengkapi dengan Small-Angle X-ray Scattering (SAXS) dan sistem in situ dari Malvern Panalytical untuk menganalisis struktur kristal, ukuran kristalit, orientasi, serta perubahan fase material secara real-time. Metode ini mampu memberikan informasi detail mengenai sifat struktural pada skala nano hingga mikro, baik untuk material padat, bubuk, maupun film tipis.
Sampel disinari dengan berkas sinar-X, dan pola difraksi yang dihasilkan direkam untuk dianalisis sesuai prinsip Bragg’s Law. Fitur SAXS memungkinkan karakterisasi struktur pada skala nanometer, sementara sistem in situ memantau perubahan struktur material secara langsung selama proses pemanasan, pendinginan, atau reaksi kimia. Data yang dihasilkan berupa pola difraksi dan kurva scattering yang digunakan untuk mengidentifikasi fase kristal, menghitung ukuran partikel, dan memahami dinamika struktur material.